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IEC 60068-2-61：1991 Environmental testing Part 2：Test methods Test Z／ABDM：Climatic sequence.pdf
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當我們購買電子設備或工業(yè)組件時，常常會關心它在不同氣候條件下的表現(xiàn)：高溫會不會損壞？潮濕環(huán)境會不會短路？低溫啟動是否正常？為了科學評估產(chǎn)品在各種極端氣候下的可靠性，國際電工委員會（IEC）制定了 IEC 60068-2-61：1991 標準，其中定義了一套系統(tǒng)的測試方法——Test Z/ABDM：Climatic sequence（氣候序列）。
IEC 60068-2-61 是一項國際標準，屬于“環(huán)境測試”系列中的第二部分。它定義了一種復合氣候測試方法，通過模擬一系列氣候應力（如高溫、低溫、濕熱、低氣壓等），在實驗室內加速并放大產(chǎn)品在自然氣候中可能出現(xiàn)的退化機制。
該標準尤其適用于電子組件，也可擴展至其他電工產(chǎn)品。測試的核心目的是驗證產(chǎn)品在連續(xù)氣候應力下的密封性、結構完整性和功能穩(wěn)定性。
該標準主要適用于：
電子組件（如集成電路、電容器、連接器等）；
其他電工產(chǎn)品，只要其退化機制與測試條件相符；
常用于質量評估系統(tǒng)（如IECQ）中的可靠性驗證。
測試通常在完成機械應力測試（如振動、沖擊）后進行，用于檢測產(chǎn)品是否因前期測試導致密封性受損。
高溫測試（Dry heat）
濕熱循環(huán)測試（Damp heat cyclic）
低溫測試（Cold）
低氣壓測試（Low air pressure，可選）
恢復階段（Recovery）
高溫試驗箱：用于模擬干熱環(huán)境；
濕熱試驗箱：可控制溫濕度循環(huán)；
低溫試驗箱：用于模擬低溫環(huán)境；
低氣壓試驗箱：模擬高海拔或低壓環(huán)境；
自動轉移系統(tǒng)（可選）：用于在不同測試箱之間自動轉移樣品，提高測試連貫性。
注意：若使用單一試驗箱進行所有測試，需特別注意各階段之間的轉換條件，避免因箱體慣性、冷凝水等影響測試準確性。
測試過程中及結束后，樣品需在標準大氣條件（通常為溫度15℃–35℃，相對濕度25%–75%）下進行恢復，以確保測試結果的穩(wěn)定性。恢復時間一般為1–2小時，部分情況下可延長至24小時。
標準定義了三種測試方法：
共5個階段，順序如下：
高溫暴露（16小時）
1次濕熱循環(huán)
低溫暴露（2小時）
低氣壓測試（可選，60分鐘）
多次濕熱循環(huán)（根據(jù)氣候類別決定次數(shù)）
僅適用于特定氣候類別，在濕熱循環(huán)之間插入低溫測試，共進行4輪“濕熱-低溫”交替。
適用于批次驗收測試，步驟較少，時間較短。
測試設備需符合各單項測試標準（如IEC 68-2-1、IEC 68-2-30等）；
設備應能精確控制溫度、濕度、氣壓；
若使用自動轉移系統(tǒng)，應確保樣品在各階段之間的轉移不影響恢復條件；
試驗箱應具備良好的密封性和溫濕度均勻性。
測試前需進行預處理（至少1小時）；
測試過程中可進行中間測量，但會延長測試時間；
測試結束后需進行最終檢查，包括外觀、尺寸和功能驗證；
樣品在測試期間允許有不超過72小時的間隔，但需在標準大氣條件下保存；
編寫測試規(guī)范時需明確：測試方法、溫度值、循環(huán)次數(shù)、是否包含低壓測試等。
IEC 60068-2-61 標準通過科學的“氣候序列”測試，幫助企業(yè)和研發(fā)人員提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在復雜氣候環(huán)境下的潛在缺陷，提升產(chǎn)品的可靠性與耐久性。無論是智能手機、汽車電子，還是工業(yè)控制器，背后都可能經(jīng)歷過這樣的“氣候模擬考驗”。
理解這一標準，不僅能幫助我們更好地選擇高質量產(chǎn)品，也體現(xiàn)了現(xiàn)代工業(yè)對“可靠性設計”的嚴謹追求。
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